如圖所示,在“用雙縫干涉測(cè)量光的波長(zhǎng)”的實(shí)驗(yàn)中,將實(shí)驗(yàn)儀器按要求安裝在光具座上,一同學(xué)觀察到清晰的干涉條紋。若他對(duì)實(shí)驗(yàn)裝置進(jìn)行改動(dòng)后,在像屏上仍能觀察到清晰的干涉條紋,但條紋間距變窄。以下改動(dòng)可能會(huì)實(shí)現(xiàn)這個(gè)效果的是( ?。?br />
【考點(diǎn)】光的干涉現(xiàn)象.
【答案】C
【解答】
【點(diǎn)評(píng)】
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發(fā)布:2024/5/10 8:0:9組卷:252引用:2難度:0.8
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,其中h為普朗克常量,p為電子的動(dòng)量。在某次實(shí)驗(yàn)時(shí)用高壓加速電子束,然后垂直射到雙縫上,在雙縫后的光屏上得到了干涉條紋,但條紋間距很小。下面的方法中一定能使條紋間距變大的是( )hp發(fā)布:2024/12/6 1:0:1組卷:31引用:2難度:0.8
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