在物理實(shí)驗(yàn)中,對(duì)物理量進(jìn)行多次測(cè)量,有的是為了通過(guò)多次測(cè)量減小誤差,有的是為了通過(guò)多次測(cè)量尋找規(guī)律。下面四個(gè)實(shí)驗(yàn)中,哪個(gè)是通過(guò)多次測(cè)量減小誤差的( ?。?/h1>
【考點(diǎn)】多次測(cè)量 普遍性.
【答案】D
【解答】
【點(diǎn)評(píng)】
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發(fā)布:2024/10/16 13:0:2組卷:3引用:2難度:0.7
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1.多次實(shí)驗(yàn)是科學(xué)研究中常見(jiàn)的做法,但目的略有不同。在“伏安法”測(cè)電阻實(shí)驗(yàn)中就需要用到多次實(shí)驗(yàn)。下列四個(gè)實(shí)驗(yàn)中,多次實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c“伏安法”測(cè)電阻相同的是( )
A.
平面鏡成像規(guī)律B.
探究杠桿平衡條件C.
測(cè)量物體長(zhǎng)度D.
探究入射角與反射角關(guān)系發(fā)布:2024/7/25 8:0:9組卷:4引用:0難度:0.8 -
2.以下探究中多次實(shí)驗(yàn)的目的與其它三個(gè)明顯不同的是( )
A.電流與電壓的關(guān)系 B.電流與電阻的關(guān)系 C.伏安法測(cè)電阻 D.研究小燈泡電阻 發(fā)布:2024/9/15 3:0:8組卷:9引用:1難度:0.8
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