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在物理實(shí)驗(yàn)中,對(duì)物理量進(jìn)行多次測(cè)量,有的是為了通過(guò)多次測(cè)量減小誤差,有的是為了通過(guò)多次測(cè)量尋找規(guī)律。下面四個(gè)實(shí)驗(yàn)中,哪個(gè)是通過(guò)多次測(cè)量減小誤差的( ?。?/h1>

【考點(diǎn)】多次測(cè)量 普遍性
【答案】D
【解答】
【點(diǎn)評(píng)】
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發(fā)布:2024/10/16 13:0:2組卷:3引用:2難度:0.7
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  • 1.多次實(shí)驗(yàn)是科學(xué)研究中常見(jiàn)的做法,但目的略有不同。在“伏安法”測(cè)電阻實(shí)驗(yàn)中就需要用到多次實(shí)驗(yàn)。下列四個(gè)實(shí)驗(yàn)中,多次實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c“伏安法”測(cè)電阻相同的是(  )

    發(fā)布:2024/7/25 8:0:9組卷:4引用:0難度:0.8
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    發(fā)布:2024/9/15 3:0:8組卷:9引用:1難度:0.8
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