如圖所示,雙縫干涉實(shí)驗(yàn)裝置中,屏上一點(diǎn)P到雙縫的距離之差為21μm。若用單色光A照射雙縫,發(fā)現(xiàn)P點(diǎn)正好是從屏中間O算起的第四條暗條紋,換用單色光B照射雙縫,發(fā)現(xiàn)P點(diǎn)正好是從屏中間O算起的第三條亮條紋,則下列說法正確的是( ?。?/h1>
【考點(diǎn)】光的干涉現(xiàn)象;用雙縫干涉測量光的波長.
【答案】D
【解答】
【點(diǎn)評】
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發(fā)布:2024/5/8 8:0:8組卷:121引用:1難度:0.7
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,其中h為普朗克常量,p為電子的動量。在某次實(shí)驗(yàn)時用高壓加速電子束,然后垂直射到雙縫上,在雙縫后的光屏上得到了干涉條紋,但條紋間距很小。下面的方法中一定能使條紋間距變大的是( ?。?/h2>hp發(fā)布:2024/12/6 1:0:1組卷:31引用:2難度:0.8
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