XCT掃描是計(jì)算機(jī)X射線斷層掃描技術(shù)的簡稱，XCT掃描機(jī)可用于對多種病情的探測。圖甲是某種XCT機(jī)主要部分的剖面圖，其中產(chǎn)生X射線部分的示意圖如圖乙所示。圖乙中M、N之間有一電子束的加速電場，虛線框內(nèi)為偏轉(zhuǎn)元件中的勻強(qiáng)偏轉(zhuǎn)場S：方向豎直，經(jīng)調(diào)節(jié)后電子從靜止開始沿帶箭頭的實(shí)線所示的方向前進(jìn)，出電場后速度與水平方向成30度打到水平圓形靶臺上的中心點(diǎn)P，產(chǎn)生X射線（如圖中帶箭頭的虛線所示）。已知電子的質(zhì)量為m,帶電荷量為e,MN兩端的電壓為U₀，偏轉(zhuǎn)場區(qū)域水平寬度為L₀，豎直高度足夠長，MN中電子束距離靶臺豎直高度為H，忽略電子的重力影響，不考慮電子間的相互作用及電子進(jìn)入加速電場時的初速度，不計(jì)空氣阻力。

（1）由題意可得電子帶負(fù)電，電子軌跡向下偏轉(zhuǎn)，則電場力向

下

下

，圖乙中偏轉(zhuǎn)電場強(qiáng)度的方向?yàn)?

向上

向上

，電子剛離開加速電場時的速度為

2

e

U

0

m

2

e

U

0

m

。
（2）請分析計(jì)算偏轉(zhuǎn)電場強(qiáng)度E的大小和P點(diǎn)到偏轉(zhuǎn)電場右邊界距離s。
（3）若由于工作人員失誤，加速電壓U₀增大少許，電子會打在P點(diǎn)

右

右

側(cè)，除了修正加速電壓的數(shù)值以外，請說出兩種方法可以使得對病情的探測無影響

加速電壓U₀增大少許，會使電子進(jìn)入偏轉(zhuǎn)電場的初速度變大，豎直方向無影響，但水平位移增加，故電子會打到P點(diǎn)右側(cè)；可以適當(dāng)向右移動靶臺，也可以將偏轉(zhuǎn)場的電場強(qiáng)度降低。

加速電壓U₀增大少許，會使電子進(jìn)入偏轉(zhuǎn)電場的初速度變大，豎直方向無影響，但水平位移增加，故電子會打到P點(diǎn)右側(cè)；可以適當(dāng)向右移動靶臺，也可以將偏轉(zhuǎn)場的電場強(qiáng)度降低。

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（4）由于技術(shù)升級，經(jīng)過專家研究可以將該電子槍改裝成發(fā)射Y粒子（質(zhì)量和電荷未知）的裝置，請幫助專家論證是否需要重新設(shè)計(jì)偏轉(zhuǎn)電場和靶臺。